Общие сведенья
История
Адрес и реквизиты
Персоналии
Дилеры
Лицензии

Видеоновость НИИ КП

Продукция НИИ КП

Радиомаяки
Антенны
Контроль и обеспечение стойкости ЭКБ и РЭА к воздействию ИИ КП
Навигационное оборудование
Телеметрия
Продукция для медицины

НОВОСТИ

15.07.2017
:::«Испытания электронной компонентной базы на стойкость к воздействию ионизирующих излучений космического пространства - основной фактор обеспечения высоких сроков активного существования радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов»

С 14 по 15 июня 2017 года в Санкт-Петербурге прошла Международная рабочая группа «Испытания электронной компонентной базы на стойкость к воздействию ионизирующих излучений космического пространства - основной фактор обеспечения высоких сроков активного существования радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов» («RAD-TEST 2017»), организованная Филиалом ОАО «ОРКК» - «НИИ КП» при поддержке Госкорпорации «Роскосмос», ОАО «ОРКК» и под эгидой Ассоциации RADECS (Radiation Effects on Components and Systems).

Заместитель руководителя Филиала ОАО «ОРКК»-«НИИ КП» В.С. Анашин являлся председателем оргкомитета RAD-TEST 2017. Техническая программа рабочей группы сформирована под руководством начальника отдела НПК-1 П.А. Чубунова.

В мероприятии приняли участие специалисты ведущих зарубежных и отечественных предприятий космической индустрии, изготовителей ЭКБ, профильных научных организаций, испытательных центров и т.п.

Сотрудники Филиала ОАО «ОРКК» - «НИИ КП» приняли активное участие в данном мероприятии и представили следующие доклады:

А.Е. Козюков «Practical Aspects of Heavy Ion Testing, Procedure Description with Experimental Features» («Практические аспекты испытаний на стойкость к воздействию ТЗЧ, описание программы и особенностей эксперимента»);

А.Б. Котельников «Ion’s Energetic Characteristics Determination Accuracy for SEE Test Facilities Based on Ion Sources» («Точность определения энергетических характеристик ионов на испытательных стендах контроля стойкости ЭКБ к воздействию ТЗЧ»);

Г.А. Протопопов «LET spectrum of secondary ions induced by high-energy protons and estimation of component’s sensitivity to heavy ion exposure by using test results in proton’s accelerator» («Спектр ЛПЭ вторичных ионов от воздействия ВЭП и оценка чувствительности ЭКБ к ТЗЧ КП по результатам испытаний на ВЭП КП»).